表面輪廓儀
北京中海遠創材料科技有限公司銷售的KLA探針式輪廓儀和光學輪廓儀提供全面的表面量測功能，以滿足工程和研究團體的需求。輪廓儀不僅僅限于臺階高度、紋理和應力分析等方面，還將測量提升到了新的水平。
Alpha-Step? D-500 Stylus Profiler
Alpha-Step D-500探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D臺階高度。它還可以在研發和生產環境中支持粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。
Alpha-Step? D-600 Stylus Profiler
Alpha-Step D-600探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D和3D的臺階高度。它還可以在研發和生產環境中支持粗糙度、翹曲度和應力的2D和3D測量。
P-7 Stylus Profiler
P-7建立在市場領先的P-17臺式探針輪廓分析系統的成功基礎之上。它保持了P-17技術的卓越測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了極高的性價比。P-7為幾納米到一毫米的臺階提供高度測量功能，適用于生產和研發環境。
P-17 Stylus Profiler
P-17是業界領先的臺式探針式輪廓儀，是40多年的表面量測經驗的結晶。P-17能夠測量從幾納米到一毫米的臺階高度，適用于生產和研發環境。
P-170 Stylus Profiler
P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將行業領先的P-17臺式系統的測量性能和經過生產驗證的HRP-260的機械傳送臂相結合。這樣的組合為機械傳送臂系統提供了極高的性價比，并且適用于半導體，化合物半導體和相關行業。
HRP?-260 Stylus Profiler
HRP?-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探針式輪廓儀。HRP的性能經過生產驗證，能夠進行自動化晶圓裝卸、可為半導體、化合物半導體、高亮度LED、數據存儲和相關行業提供服務。
MicroXAM-800 Optical Profiler
MicroXAM-800 光學輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統。MicroXAM的白光干涉儀支持相位和垂直掃描干涉測量，可以對納米級別到毫米級別的特征進行測量。
Zeta-20 Optical Profiler
Zeta-20臺式光學輪廓儀是非接觸式3D表面形貌測量系統。該系統采用ZDot?技術和Multi-Mode (多模式)光學系統，可以對各種不同的樣品進行測量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理，以及納米至毫米級別的臺階高度。
Zeta-300 Optical Profiler
Zeta-300光學輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統。該系統采用集成隔離選項和靈活的配置，可處理尺寸更大的樣品。Zeta-300采用ZDot?技術和Multi-Mode (多模式)光學系統，可以對各種不同的樣品進行測量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理，以及納米至毫米級別的臺階高度。
Zeta-388 Optical Profiler
Zeta-388光學輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統。該系統采用集成隔離選項，以及用于全自動測量的盒帶裝卸。Zeta-388采用ZDot?技術和Multi-Mode (多模式)光學系統，可以對各種不同的樣品進行測量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理，以及納米至毫米級別的臺階高度。
