2020年第十一屆全國FIB技術及學術交流研討會

2020.09.28——2020.09.30

陜西 西安   中國西部科技創新港

主辦單位：中國電鏡學會聚焦離子束（FIB）專業委員會

承辦單位：金屬材料強度國家重點實驗室              西安交通大學材料科學與工程研究院

北京中海遠創材料科技有限公司贊助參展了此次會議。在會議中，我公司常溫SEM原位納米壓痕儀和高溫SEM原位納米壓痕儀得到參會人員的廣泛咨詢和關注，受到一致好評。我公司的SEM原位納米壓痕儀有常溫和高溫兩種型號。常溫SEM原位納米壓痕儀提供高精度XYZ位移，可定位樣品進行成像。InView軟件附帶一套測試方法，涵蓋一系列測試協議?？梢杂涗汼EM或其他顯微鏡圖像，并與機械測試數據進行同步。創新的FIB-to-Test技術允許樣品傾斜90度，無需移除樣品即可實現從FIB到壓痕測試的無縫過渡。高溫SEM原位納米壓痕儀測試系統可在真空環境中對壓頭和樣品分別獨立進行加熱，并與許多SEM/FIB工作室或獨立真空工作室兼容。系統溫度可高達800攝氏度，因而可以模擬現場極端溫度條件，以獲得可靠一致的測試數據。鉬支架上的單晶碳化物壓頭經過優化，可用于高溫測試應用，并可提供多種幾何形狀。