G200X納米壓痕儀

行業領先的微納米力學測試平臺，操作方便，界面友好，可輕松實現納米級的力學測試。Nano Indenter G200X是KLA推出的更新一代的旗艦測試平臺，儀器采用全新高速數字控制器，極大提升其數據采集率和位移時間響應速率；高階的InView^TM測試控制和數據采集軟件，集成各種常用的壓痕方法、定量的劃痕和磨損測試方法、高分辨的三維探針成像功能、便利的高溫測試方法和用戶定制測試方案等各種可選的高級應用模塊。

產品詳情

Nano Indenter G200X可提供納米級的力學測試功能，簡單易用，能夠精確進行各種力學定量分析。G200X系統中配置了高精度納米馬達樣品臺、超大的樣品安裝系統和高分辨率光學顯微鏡。InView軟件、InQuest控制器和InForce驅動器讓KLA全線壓痕產品系列具有一致的卓越功能。G200X系統可選功能包括連續剛度測量(CSM)、掃描探針顯微成像、劃痕測試、動態力學分析頻率掃描、IV電壓電流特性測試、超高速壓痕測試和沖擊測試等等。

主要功能

• 電磁驅動器可輕松實現載荷和位移的寬動態范圍的控制

• 高分辨率光學顯微鏡與精密XYZ 移動系統結合，實現高精度觀察與定位測試樣本。

• 便捷的樣本安裝臺與多樣本定位設置功能實現高通量測試。

• 高度模塊化設計，設備提供掃描探針成像功能、劃痕及磨損測試功能、高溫納米力學測試功能、連續剛度測試(CSM) 和高速3D及4D力學圖譜等模塊化升級選件。

• 直觀的用戶操作界面便于快速的進行測試設置；僅需點擊幾下鼠標即可完成復雜測試的參數設置。

• 實時高效的實驗控制，簡單易用的測試流程開發和測試參數設置。

• 全新的InView軟件，提供用于分析數據的Review軟件和生成各種綜合性測試報告的 InFocus軟件。

• 自行開發并獲得美國R&D獎的材料表面力學圖譜功能和高速測試功能，極大的提高了定量數據的可靠性。

• InQuest高速數字控制器，數據采集速率最高可達100kHz，時間響應常數最快為20μs。

主要應用

• 高速硬度和模量測量（基于Oliver-Pharr 模型）

• 高速材料表面力學特性分布測量

• ISO 14577 標準化硬度測試

• 薄膜及涂層測試

• 界面附著力測量

• 斷裂韌性測量

• 粘彈性測量，儲能模量和損耗模量及損耗因子

• 掃描探針顯微成像（3D 成像）

• 定量劃痕和磨損測試

• 高溫納米壓痕測試

• IV電學測試

行業分布

• 高校、科研實驗室和研究所

• 半導體芯片行業

• PVD/CVD 硬質涂層（DLC、TiN）

• MEMS：微機電系統/納米級通用測試

• 陶瓷與玻璃

• 金屬與合金

• 制藥

• 膜層材料與油漆

• 復合材料

• 電池與儲能

• 汽車與航空航天

更多應用，歡迎咨詢。